En este proyecto se abordara el problema de obtener el levantamiento topografico de objetos microscopicos opacos por medio de una tecnica de no contacto, no escaneo y un solo disparo. El levantamiento topografico de objetos microscopicos opacos por medio de tecnicas de no contacto se ha llevado a cabo a traves de tecnicas de microscopia confocal y de interferometria de microscopia holografica digital. En la primera, debido a su principio de funcionamiento es necesario hacer un barrido sobre la muestra para poder obtener una imagen de la muestra. Esta condicion implica que la tecnica sea lenta y requiera de sistemas mecanicos de alta sensibilidad y estabilidad mecanica que permitan realizar desplazamiento en el orden de fracciones de los micrometros. En algunas variantes de la interferometria de microscopia holografica digital es necesario hacer al menos tres registros de la muestra, para poder procesar la informacion y obtener una imagen de la muestra. Esto implica que no se pueda utilizar la tecnica para el estudio de una muestra dinamica; ademas del considerable costo computacional asociado con dicha tecnica. Con el fin de solucionar el tipo de inconvenientes que presentan las tecnicas mencionadas, se propone en este proyecto de tesis de maestria una solucion cuyo principio fundamental se soporta en tecnicas de imagen cuantitativas de fase (QPI) combinadas con un montaje optico de microscopia holografica digital (DHM) por reflexion en configuracion fuera de eje y cuyo sistema formador de imagenes opere en modo telecentrico. El uso de esta arquitectura permitira obtener el levantamiento topografico de muestras opacas a partir de una sola toma y en el campo de vision completo del objetivo de microscopio. La relevancia tecnologica del proyecto se justifica en el alto nivel de aplicabilidad que tiene en las ciencias de los materiales y en la micro-tecnologia un sistema de perfilometria con las caracteristicas arriba mencionadas. Entre las aplicaciones a las ciencias de los materiales la tecnica propuesta permitira estudiar y analizar el crecimiento de las peliculas delgadas que se generan en los laboratorios mediante tecnicas de deposicion. Ademas la tecnica podria ser utilizada en los centros de desarrollo de estructuras de sistemas microelectromecanicos MEMs, con el fin de observar la estructura y dinamica de estos.